扫描电化学显微系统（SECM）
交流扫描电化学显微镜系统（ac-SECM）
间歇接触扫描电化学显微镜系统（ic-SECM）
微区电化学阻抗测试系统(LEIS)
扫描振动点击测试系统（SVET）
电解液微滴扫描系统（SDS）
交流电解液微滴扫描系统（ac-SDS）
扫描开尔文探针测试系统（SKP）
非触式微区形貌测试系统（OSP）
出色的性能
快速精准的闭环定位系统为电化学扫描探针纳米级研究的需求而特别设计。结合Uniscan *的混合型32-bit DAC技术，用户可以选择合适实验研究的*配置
先进和灵活的工作平台
系统可提供9种探针技术，使得M470成为灵活的电化学扫描滩镇工作平台。
全面的附件
7种模块可选，3种不同电解池，各式探针，长距显微镜以及后处理数据分析软件。
M470微区扫描电化学工作站
https://www.chem17.com/st23184/product_24884621.html